测量电致自旋荧光的显微测量系统
| Contribuinte(s) |
汤宝平 中科院半导体研究所 |
|---|---|
| Data(s) |
18/11/2009
|
| Resumo |
于AD批量导入至AEzhangdi 于AD批量导入至AEzhangdi |
| Identificador | |
| Idioma(s) |
中文 |
| Fonte |
肖文波;郑厚植,测量电致自旋荧光的显微测量系统,CN200810106706,39582 |
| Tipo |
专利 |
