提高IC测试系统性价比的研究


Autoria(s): 庄昕辉
Contribuinte(s)

林雨

Data(s)

1996

Resumo

Submitted by zhangdi (zhangdi@red.semi.ac.cn) on 2009-04-13T11:45:31Z

Submitted by zhangdi (zhangdi@red.semi.ac.cn) on 2009-04-13T11:45:31Z

Identificador

http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/4845

http://www.irgrid.ac.cn/handle/1471x/59981

Idioma(s)

中文

Fonte

庄昕辉.提高IC测试系统性价比的研究.[硕士].北京.中国科学院半导体研究所.

Palavras-Chave #半导体器件与微电子学
Tipo

学位论文