Si中注入Ge形成GexSi1-x层的研究


Autoria(s): 马天安
Contribuinte(s)

马俊如

Data(s)

1988

Resumo

Submitted by zhangdi (zhangdi@red.semi.ac.cn) on 2009-04-13T11:45:31Z

Submitted by zhangdi (zhangdi@red.semi.ac.cn) on 2009-04-13T11:45:31Z

Identificador

http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/4653

http://www.irgrid.ac.cn/handle/1471x/59882

Idioma(s)

中文

Fonte

马天安.Si中注入Ge形成GexSi1-x层的研究.[硕士].北京.中国科学院半导体研究所.

Palavras-Chave #新工艺的研究及有关物理问题
Tipo

学位论文