提高IC测试系统性价比的研究


Autoria(s): 孙瑜
Contribuinte(s)

林雨

Data(s)

1997

Resumo

Submitted by zhangdi (zhangdi@red.semi.ac.cn) on 2009-04-13T11:45:31Z

Submitted by zhangdi (zhangdi@red.semi.ac.cn) on 2009-04-13T11:45:31Z

Identificador

http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/4501

http://www.irgrid.ac.cn/handle/1471x/59806

Idioma(s)

中文

Fonte

孙瑜.提高IC测试系统性价比的研究.[硕士].北京.中国科学院半导体研究所.

Palavras-Chave #电路与系统
Tipo

学位论文