GexSi1-x/Si异质结构中的缺陷研究


Autoria(s): 万学元
Contribuinte(s)

梁骏吾

Data(s)

1997

Resumo

Submitted by zhangdi (zhangdi@red.semi.ac.cn) on 2009-04-13T11:45:31Z

Submitted by zhangdi (zhangdi@red.semi.ac.cn) on 2009-04-13T11:45:31Z

Identificador

http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/4491

http://www.irgrid.ac.cn/handle/1471x/59801

Idioma(s)

中文

Fonte

万学元.GexSi1-x/Si异质结构中的缺陷研究.[博士].北京.中国科学院半导体研究所.

Palavras-Chave #半导体材料
Tipo

学位论文