Si-GaAs的电学补偿机理及微区均匀性对电子迁移率的影响


Autoria(s): 戴元筠
Contribuinte(s)

王占国

Data(s)

1992

Resumo

Submitted by zhangdi (zhangdi@red.semi.ac.cn) on 2009-04-13T11:45:31Z

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Identificador

http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/4359

http://www.irgrid.ac.cn/handle/1471x/59735

Idioma(s)

中文

Fonte

戴元筠.Si-GaAs的电学补偿机理及微区均匀性对电子迁移率的影响.[硕士].北京.中国科学院半导体研究所.

Palavras-Chave #半导体材料物理
Tipo

学位论文