电化学原位膜导电性测量仪

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Autoria(s): 牛利; 张齐贤; 冯云祥; 由天艳; 杨贵福

Contribuinte(s)	中国科学院长春应用化学研究所
Data(s)	04/06/2008
Identificador	http://ir.ciac.jl.cn/handle/322003/8815 http://www.irgrid.ac.cn/handle/1471x/39018
Idioma(s)	中文
Fonte	牛利;张齐贤;冯云祥;由天艳;杨贵福,电化学原位膜导电性测量仪,200510119013.1,2005-11-24
Tipo	专利