铬过渡层对银膜光学性质及附着力的影响


Autoria(s): 孙喜莲; 邵建达
Data(s)

2006

Resumo

研究了在玻璃基底上采用不同厚度的铬膜作过渡层,对银膜的光学性质及其附着力的影响。光谱测量结果表明,随着铬膜层厚度的增加,银膜的反射率先增大后减小。与直接镀在玻璃基底上的银膜的反射率相比,铬膜层厚度为8~14nm时,银膜的反射率较低;铬膜层厚度为17~21nm时,银膜的反射率得到提高,其中铬膜厚度为17nm时,银膜的反射率最高;继续增加铬膜层的厚度,银膜的反射率又降低,说明采用一定厚度的铬膜作过渡层可以提高银膜的反射率。X射线衍射(XRD)结构分析表明,一定厚度的铬膜改善了银膜的结晶程度,使薄膜的晶粒度增大

Identificador

http://ir.siom.ac.cn/handle/181231/4462

http://www.irgrid.ac.cn/handle/1471x/12808

Idioma(s)

中文

Fonte

孙喜莲;邵建达.铬过渡层对银膜光学性质及附着力的影响,中国激光,2006,33(12):1680-1683

Palavras-Chave #光学薄膜 #薄膜 #银膜 #微结构 #光学性质 #附着力
Tipo

期刊论文