Detección y análisis de grietas en sustratos de silicio cristalino originadas en líneas industriales de fabricación de células solares
Contribuinte(s) |
Gutiérrez Serrano, José Rubén Tecnología Electrónica;;Teknologia Elektronikoa |
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Data(s) |
14/01/2016
14/01/2016
06/11/2015
06/11/2015
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Resumo |
164 p. Siendo la oblea de silicio cristalino uno de los elementos más costosos de los paneles fotovoltaicos, el objetivo de esta tesis es comprender el proceso de fractura de las obleas de silicio cristalino en las líneas de fabricación de células solares fotovoltaicas y establecer las acciones necesarias para reducir el índice de roturas en estas líneas.Para ello, se ha estudiado el proceso de la fractura frágil, y se ha analizado una línea de fabricación de células solares estándar. De esta forma se han detectado, no sólo los puntos críticos donde se produce un mayor número de roturas, sino también aquellos donde se generan las grietas que posteriormente conducirán a la fractura de la oblea.Se han analizado diferentes técnicas para detectar grietas en las obleas y poder retirarlas del proceso productivo antes de que se produzca su rotura y genere costes adicionales. Por último se ha estudiado el deterioro mecánico que produce la generación de una estructura de célula de contactos posteriores en una oblea de silicio y diversas técnicas para la reducción del deterioro generado |
Identificador |
http://hdl.handle.net/10810/16702 335196 14401 |
Idioma(s) |
spa |
Direitos |
(c) 2015 ENEKO CERECEDA MORIS info:eu-repo/semantics/openAccess |
Palavras-Chave | #photoelectric devices #dispositivos fotoeléctricos |
Tipo |
info:eu-repo/semantics/doctoralThesis |