聚焦光斑磁光极克尔磁滞回线的热效应分析


Autoria(s): 方铭; 王现英; 李青会; 沈德芳; 干福熹
Data(s)

2005

Resumo

实验设计并组建了一套磁光极克尔磁滞回线测量装置,该装置可以通过改变照射到样品上的激光功率来改变薄膜样品上被聚焦光斑照射的测试点的温度。同时通过计算模拟了激光照射在TbFeCo磁光薄膜上的温度分布情况,得到了薄膜的矫顽力随照射激光功率的变化关系,由此可以确定薄膜的居里温度和补偿温度。为研究磁光薄膜样品在各种温度条件下,磁光性能的变化以及多层磁光薄膜的磁耦合效应提供了有效的手段。

Identificador

http://ir.siom.ac.cn/handle/181231/3879

http://www.irgrid.ac.cn/handle/1471x/11319

Idioma(s)

中文

Fonte

方铭;王现英;李青会;沈德芳;干福熹.聚焦光斑磁光极克尔磁滞回线的热效应分析,功能材料与器件学报,2005,11(1):75-78

Palavras-Chave #光存储 #磁光存储技术 #聚焦光斑 #极克尔磁滞回线 #TbFeco薄膜
Tipo

期刊论文