晶体性能综合检测仪研究

本文研制了一种晶体的静态消光比、电光晶体的静态消光比或动态消光比、电光晶体的半波电压和波片的相位延迟的综合性自动化测量仪。该仪器采用偏振光干涉测量技术、调制光源技术、解调电路、软件除法技术，将光、机、电一体化技术和计算机控制技术有效地结合起来，既可用于科研，也可用于生产现场，实现晶体消光比、半波电压和波片相位延迟3个参数的一体化快速自动化测量。实践证明，运用文中的测量原理和方法，晶体的消光比测量可达到10^-6，波片相位延迟的测量重复性精度优于0．5°，此外，运用电光晶体的纵向调制技术，还可精确测量出电光