输运层厚度与迁移率对双层有机发光器件性能的影响


Autoria(s): 瞿述; 彭景翠; 张高明; 赵楚军; 李宏建
Data(s)

2005

Resumo

基于一些合理假设与近似,建立了具有欧姆接触载流子注入的双层有机电致发光器件的解析模型.模型中计算参数只有空穴和电子输运层的厚度、迁移率、外加电压及材料参数Fh和Fe,且这些参数都是可以通过测量得到的.研究了材料参数Fh,Fe对器件复合电流密度的影响及空穴输运层厚度和载流子迁移率对器件电场强度和复合电流密度的影响.结果表明:空穴输运层厚度和载流子迁移率引起电场强度的重新分布,进而对复合电流密度产生影响;接触限制电极注入少数载流子的器件可以取得比欧姆接触注入多数载流子的器件更高的复合电流.

Identificador

http://ir.siom.ac.cn/handle/181231/3030

http://www.irgrid.ac.cn/handle/1471x/10859

Idioma(s)

中文

Fonte

瞿述;彭景翠;张高明;赵楚军;李宏建.输运层厚度与迁移率对双层有机发光器件性能的影响,湖南大学学报:自然科学版,2005,32(5):90-94

Palavras-Chave #有机电致发光器件 #复合电流密度 #输运层厚度 #载流子迁移率
Tipo

期刊论文