相位解包裹算法中基于调制度的新质量图
| Data(s) |
2006
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|---|---|
| Resumo |
在移相法测量光学波面或物体形貌过程中。相位解包裹是条纹自动分析中的关键技术，而质量图对解包裹相位算法起着至关重要的作用。用计算机模拟干涉图获得相位导数偏差质量图，指出其在标识相位数据质量方面的不足，并根据调制度结合相位梯度构造出新的质量图（称之为调制度相位梯度偏差质量图）来弥补此缺陷。再以新质量图数据为权值，采用加权最小二乘解包裹算法验证新质量图的可靠性。最后通过实验数据，比较新质量图和相位导数偏差质量图在解包裹相位算法中的作用，得到新质量图的解相结果均方根（RMS）值为2．652rad，而相位导数偏差质 |
| Identificador | |
| Idioma(s) |
中文 |
| Fonte |
朱勇建;刘立人;栾竹;鲁伟;阳庆国;李大汕.相位解包裹算法中基于调制度的新质量图,中国激光,2006,33(5):667-672 |
| Palavras-Chave | #测量 #质量图 #移相法 #解包裹相位 #调制度 |
| Tipo |
期刊论文 |
