X射线荧光层析

X射线荧光层析技术是利用内壳层电子跃迁所发出荧光辐射，来测定样品中的元素含量，获取样品内部的结构信息。Wolter型掠入射镜装置的元素灵敏度可以达到100个原子／cm^3，空间分辨率达到微米量级。结合康普顿散射和吸收层析进行成像可使其图像质量得到进一步的提高。而当获得了物体的投影数据以后，可采用各种重建算法来使物体得以准确重现。介绍了几种常用的重建算法，并就其特点进行了比较。