利用迹线测量晶体材料中特征面取向的EBSD方法

本工作研究了从单一投影面测量块体晶体材料内部特征面的EBSD方法。首先对样品表面进行SEM观察并采集图像,利用图像分析软件测量各迹线在样品台坐标系的取向。然后进行EBSD扫描获得迹线两侧各晶粒对应的取向,进一步利用坐标变换关系计算出晶粒内部的特征面迹线在晶格坐标中的方向指数。最后将全部测量的迹线的极点标示到反极图中,并与各低指数晶面的大圆位置进行对比,重合度最高的晶面就是特征面最可能的晶体学取向面。