薄膜辐射热探测器


Autoria(s): 竺乃宜; 李红德; 邹惠良; 崔季平; 李连祥; 高俊杰; 张瑞智; 董向红; 张敏; 黄文国
Data(s)

1978

Resumo

<正> 薄膜辐射热探测器是一种结构简单,灵敏度高,响应快速的辐射热测量元件,特别适用于短时间超声速设备中的辐射测量,也可以在辐射能的标定中使用。这种探测器是在通常薄膜电阻温度计的表面上覆盖一层碳黑类物质,以增加它的吸收率和扩大吸收谱的宽度,且减少吸收率随波长的变化。

Identificador

http://dspace.imech.ac.cn/handle/311007/38732

http://www.irgrid.ac.cn/handle/1471x/4717

Idioma(s)

中文

Fonte

力学学报.1978(3):230-233

Palavras-Chave #辐射热探测器 #玻璃基片 #力学研究所 #中国科学院 #吸收率 #金膜 #辐射热测量 #分光光度计 #反射率
Tipo

期刊论文