薄膜辐射热探测器
Data(s) |
1978
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Resumo |
<正> 薄膜辐射热探测器是一种结构简单,灵敏度高,响应快速的辐射热测量元件,特别适用于短时间超声速设备中的辐射测量,也可以在辐射能的标定中使用。这种探测器是在通常薄膜电阻温度计的表面上覆盖一层碳黑类物质,以增加它的吸收率和扩大吸收谱的宽度,且减少吸收率随波长的变化。 |
Identificador | |
Idioma(s) |
中文 |
Fonte |
力学学报.1978(3):230-233 |
Palavras-Chave | #辐射热探测器 #玻璃基片 #力学研究所 #中国科学院 #吸收率 #金膜 #辐射热测量 #分光光度计 #反射率 |
Tipo |
期刊论文 |