缺陷识别反问题的研究状况与若干进展

回顾了缺陷识别反问题的发展状况，评述了几类典型识别方法：基于势函理论的电学法，静态BEM优化迭代法，射线法，T矩阵法，Born近似法，边界积分方程及边界元法。介绍了作者建立的裂纹及夹杂识别的迭代优化法。指出了缺陷识别反问题需要研究的主要问题。