Annoksen ja pinta-alan tulon (DAP) mittaaminen röntgendiagnostiikassa ja DAP-mittareiden kalibrointi
| Contribuinte(s) |
Helsingin yliopisto, matemaattis-luonnontieteellinen tiedekunta, fysikaalisten tieteiden laitos University of Helsinki, Faculty of Science, Department of Physical Sciences Helsingfors universitet, matematisk-naturvetenskapliga fakulteten, institutionen för fysikaliska vetenskaper |
|---|---|
| Data(s) |
01/09/2004
|
| Identificador |
URN:NBN:fi-fe20051371 |
| Idioma(s) |
fi |
| Publicador |
Helsingin yliopisto University of Helsinki Helsingfors universitet |
| Direitos |
Julkaisu on tekijänoikeussäännösten alainen. Teosta voi lukea ja tulostaa henkilökohtaista käyttöä varten. Käyttö kaupallisiin tarkoituksiin on kielletty. This publication is copyrighted. You may download, display and print it for Your own personal use. Commercial use is prohibited. Publikationen är skyddad av upphovsrätten. Den får läsas och skrivas ut för personligt bruk. Användning i kommersiellt syfte är förbjuden. |
| Tipo |
Pro gradu Master's thesis Pro gradu Text |
