Caratterizzazione della superficie di array di nanofili di silicio
Contribuinte(s) |
Cavallini, Anna |
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Data(s) |
25/10/2013
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Resumo |
Nel primo capitolo viene introdotto lo studio eff�ettuato e descritto un metodo di misure successivo alla caratterizzazione della super�ficie. Nel secondo capitolo vengono descritti i campioni analizzati e, nello speci�fico, la crescita attraverso MaCE dei nanofi�li di silicio. Nel terzo capitolo viene descritto lo strumento AFM utilizzato e la teoria della caratterizzazione alla base dello studio condotto. Nella quarta sezione vengono descritti i risultati ottenuti mentre nelle conclusioni viene tratto il risultato dei valori ottenuti di RMS roughness e roughness exponent. |
Formato |
application/pdf |
Identificador |
http://amslaurea.unibo.it/6154/1/Tamburi_Marco_Tesi.pdf Tamburi, Marco (2013) Caratterizzazione della superficie di array di nanofili di silicio. [Laurea], Università di Bologna, Corso di Studio in Fisica [L-DM270] <http://amslaurea.unibo.it/view/cds/CDS8007/> |
Relação |
http://amslaurea.unibo.it/6154/ |
Direitos |
info:eu-repo/semantics/openAccess |
Palavras-Chave | #nanofili, silicio, array, MaCE, metal-assisted chemical etching, roughness, RMS, root mean square, celle solari, superficie, caratterizzazione, AFM, Atomic Force Microscopy, lunghezza di correlazione, self-affine, HHCF, height-height correlation function #scuola :: 843899 :: Scienze #cds :: 8007 :: Fisica [L-DM270] #sessione :: seconda |
Tipo |
PeerReviewed |