Caratterizzazione della superficie di array di nanofili di silicio


Autoria(s): Tamburi, Marco
Contribuinte(s)

Cavallini, Anna

Data(s)

25/10/2013

Resumo

Nel primo capitolo viene introdotto lo studio eff�ettuato e descritto un metodo di misure successivo alla caratterizzazione della super�ficie. Nel secondo capitolo vengono descritti i campioni analizzati e, nello speci�fico, la crescita attraverso MaCE dei nanofi�li di silicio. Nel terzo capitolo viene descritto lo strumento AFM utilizzato e la teoria della caratterizzazione alla base dello studio condotto. Nella quarta sezione vengono descritti i risultati ottenuti mentre nelle conclusioni viene tratto il risultato dei valori ottenuti di RMS roughness e roughness exponent.

Formato

application/pdf

Identificador

http://amslaurea.unibo.it/6154/1/Tamburi_Marco_Tesi.pdf

Tamburi, Marco (2013) Caratterizzazione della superficie di array di nanofili di silicio. [Laurea], Università di Bologna, Corso di Studio in Fisica [L-DM270] <http://amslaurea.unibo.it/view/cds/CDS8007/>

Relação

http://amslaurea.unibo.it/6154/

Direitos

info:eu-repo/semantics/openAccess

Palavras-Chave #nanofili, silicio, array, MaCE, metal-assisted chemical etching, roughness, RMS, root mean square, celle solari, superficie, caratterizzazione, AFM, Atomic Force Microscopy, lunghezza di correlazione, self-affine, HHCF, height-height correlation function #scuola :: 843899 :: Scienze #cds :: 8007 :: Fisica [L-DM270] #sessione :: seconda
Tipo

PeerReviewed