Biblioteca Digital

**Autoria(s):** Abazov, V. M.; Abbott, B.; Abolins, M.; Acharya, B. S.; Adams, M.; Adams, T.; Aguilo, E.; Ahn, S. H.; Ahsan, M.; Alexeev, G. D.; Alkhazov, G.; Mao, H. S.; Maravin, Y.; Martin, B.; McCarthy, R.; Melnitchouk, A.; Couderc, F.; Mendes, A.; Mendoza, L.; Mercadante, P. G.; Grohsjean, A.; Kasper, P.; Baldin, B.; Merkin, M.; Merritt, K. W.; Meyer, J.; Meyer, A.; Millet, T.; Mitrevski, J.; Cousinou, M. -C.; Molina, J.; Mommsen, R. K.; Katsanos, I.; Anzelc, M. S.; Mondal, N. K.; Moore, R. W.; Bandurin, D. V.; Moulik, T.; Muanza, G. S.; Mulders, M.; Mulhearn, M.; Mundal, O.; Crepe-Renaudin, S.; Kau, D.; Mundim, L.; Charles, F.; Nagy, E.; Naimuddin, M.; Narain, M.; Naumann, N. A.; Banerjee, S.; Neal, H. A.; Negret, J. P.; Neustroev, P.; Kaur, R.; Nilsen, H.; Cutts, D.; Gruenendahl, S.; Nogima, H.; Nomerotski, A.; Novaes, Sérgio Ferraz; Nunnemann, T.; O'Dell, V.; O'Neil, D. C.; Banerjee, P.; Kaushik, V.; Obrant, G.; Ochando, C.; Onoprienko, D.; Gruenewald, M. W.; Cwiok, M.; Oshima, N.; Osta, J.; Otec, R.; Otero y Garzon, G. J.; Owen, M.; Atramentov, O.; Padley, P.; Pangilinan, M.; Barberis, E.; Parashar, N.; Guo, J.; Park, S. -J.; da Motta, H.; Park, S. K.; Parsons, J.; Partridge, R.; Kehoe, R.; Parua, N.; Patwa, A.; Pawloski, G.; Penning, B.; Perfilov, M.; Guo, F.; Barfuss, A. -F.; Peters, K.; Alverson, G.; Peters, Y.; Kermiche, S.; Petroff, P.; Petteni, M.; Piegaia, R.; Piper, J.; Pleier, M. -A.; Podesta-Lerma, P. L. M.; Gutierrez, P.; Podstavkov, V. M.; Pogorelov, Y.; Bargassa, P.; Khalatyan, N.; Das, A.; Pol, M. -E.; Polozov, P.; Pope, B. G.; Popov, A. V.; Potter, C.; da Silva, W. L. Prado; Gutierrez, G.; Prosper, H. B.; Protopopescu, S.; Cihangir, S.; Qian, J.; Quadt, A.; Davies, G.; Baringer, P.; Quinn, B.; Rakitine, A.; Rangel, M. S.; Ranjan, K.; Haas, A.; Ratoff, P. N.; Goussiou, A.; Renkel, P.; Reucroft, S.; Rich, P.; Rijssenbeek, M.; De, K.; Ripp-Baudot, I.; Barreto, J.; Rizatdinova, F.; Robinson, S.; Hadley, N. J.; Khanov, A.; Rodrigues, R. F.; Rominsky, M.; Royon, C.; Rubinov, P.; Ruchti, R.; Safronov, G.; de Jong, S. J.; Sajot, G.; Sanchez-Hernandez, A.; Bartlett, J. F.; Kharchilava, A.; Haefner, P.; Sanders, M. P.; Santoro, A.; Savage, G.; Sawyer, L.; Scanlon, T.; Schaile, D.; Schamberger, R. D.; De la Cruz-Burelo, E.; Scheglov, Y.; Kharzheev, Y. M.; Schellman, H.; Hagopian, S.; Schieferdecker, P.; Bassler, U.; Schliephake, T.; Schwanenberger, C.; Schwartzman, A.; Schwienhorst, R.; Sekaric, J.; Severini, H.; Khatidze, D.; Martins, C. de Oliveira; Shabalina, E.; Cheu, E.; Shamim, M.; Shary, V.; Shchukin, A. A.; Bauer, D.; Shivpuri, R. K.; Siccardi, V.; Simak, V.; Kim, H.; Sirotenko, V.; Skubic, P.; Degenhardt, J. D.; Arnoud, Y.; Slattery, P.; Smirnov, D.; Snow, J.; Snow, G. R.; Snyder, S.; Beale, S.; Kim, T. J.; Soldner-Rembold, S.; Sonnenschein, L.; Sopczak, A.; Sosebee, M.; Haley, J.; Deliot, F.; Soustruznik, K.; Souza, M.; Spurlock, B.; Stark, J.; Kirby, M. H.; Steele, J.; Stolin, V.; Bean, A.; Stoyanova, D. A.; Strandberg, J.; Hall, I.; Strandberg, S.; Demarteau, M.; Strang, M. A.; Strauss, M.; Autermann, C.; Strauss, E.; Stroehmer, R.; Strom, D.; Stutte, L.; Sumowidagdo, S.; Begalli, M.; Hall, R. E.; Svoisky, P.; Sznajder, A.; Demina, R.; Kirsch, M.; Talby, M.; Tamburello, P.; Tanasijczuk, A.; Taylor, W.; Temple, J.; Tiller, B.; Tissandier, F.; Han, L.; Titov, M.; Begel, M.; Klima, B.; Tokmenin, V. V.; Alves, G. A.; Toole, T.; Torchiani, I.; Trefzger, T.; Tsybychev, D.; Tuchming, B.; Tully, C.; Hanagaki, K.; Tuts, P. M.; Grannis, P. D.; Unalan, R.; Uvarov, S.; Belanger-Champagne, C.; Denisov, D.; Uvarov, L.; Uzunyan, S.; Vachon, B.; van den Berg, P. J.; Van Kooten, R.; Hansson, P.; Claes, D.; van Leeuwen, W. M.; Varelas, N.; Varnes, E. W.; Vasilyev, I. A.; Vaupel, M.; Denisov, S. P.; Bellantoni, L.; Verdier, P.; Vertogradov, L. S.; Verzocchi, M.; Kohli, J. M.; Harder, K.; Villeneuve-Seguier, F.; Vint, P.; Vokac, P.; Von Toerne, E.; Voutilainen, M.; Wagner, R.; Desai, S.; Wahl, H. D.; Bellavance, A.; Konrath, J. -P.; Wang, L.; Harel, A.; Wang, M. H. L. S.; Warchol, J.; Watts, G.; Wayne, M.; Weber, M.; Weber, G.; Wenger, A.; Diehl, H. T.; Kopal, M.; Wermes, N.; Wetstein, M.; Harrington, R.; Benitez, J. A.; White, A.; Wicke, D.; Wilson, G. W.; Wimpenny, S. J.; Wobisch, M.; Wood, D. R.; Korablev, V. M.; Wyatt, T. R.; Diesburg, M.; Xie, Y.; Chevallier, F.; Yacoob, S.; Yamada, R.; Beri, S. B.; Yan, M.; Yasuda, T.; Yatsunenko, Y. A.; Kozelov, A. V.; Yip, K.; Yoo, H. D.; Youn, S. W.; Dominguez, A.; Hauptman, J. M.; Yu, J.; Zatserklyaniy, A.; Zeitnitz, C.; Zhao, T.; Bernardi, G.; Krop, D.; Zhou, B.; Zhu, J.; Zielinski, M.; Zieminska, D.; Zieminski, A.; Arov, M.; Dong, H.; Zivkovic, L.; Zutshi, V.; Zverev, E. G.; Kuhl, T.; Bernhard, R.; Bertram, I.; Besancon, M.; Beuselinck, R.; Bezzubov, V. A.; Bhat, P. C.; Hauser, R.; Bhatnagar, V.; Dudko, L. V.; Biscarat, C.; Kumar, A.; Blazey, G.; Blekman, F.; Blessing, S.; Bloch, D.; Bloom, K.; Boehnlein, A.; Boline, D.; Hays, J.; Bolton, T. A.; Borissov, G.; Avila, C.; Duflot, L.; Bose, T.; Brandt, A.; Brock, R.; Brooijmans, G.; Bross, A.; Brown, D.; Buchanan, N. J.; Hebbeker, T.; Buchholz, D.; Greenlee, H.; Buehler, M.; Buescher, V.; Dugad, S. R.; Bunichev, V.; Burdin, S.; Burke, S.; Burnett, T. H.; Buszello, C. P.; Butler, J. M.; Hedin, D.; Kunori, S.; Calfayan, P.; Calvet, S.; Cammin, J.; Carvalho, W.; Anastasoaie, M.; Casey, B. C. K.; Cason, N. M.; Castilla-Valdez, H.; Chakrabarti, S.; Chakraborty, D.; Alton, A.; Hegeman, J. G.; Chan, K. M.; Chan, K.; Chandra, A.; Duggan, D.; Duperrin, A.; Dyer, J.; Dyshkant, A.; Eads, M.; Edmunds, D.; Kupco, A.; Ellison, J.; Heinmiller, J. M.; Elvira, V. D.; Enari, Y.; Eno, S.; Ancu, L. S.; Ermolov, P.; Evans, H.; Evdokimov, A.; Evdokimov, V. N.; Kurca, T.; Ferapontov, A. V.; Ferbel, T.; Heinson, A. P.; Fiedler, F.; Filthaut, F.; Fisher, W.; Fisk, H. E.; Andeen, T.; Ford, M.; Fortner, M.; Kvita, J.; Fox, H.; Fu, S.; Fuess, S.; Heintz, U.; Gadfort, T.; Galea, C. F.; Gallas, E.; Galyaev, E.; Garcia, C.; Anderson, S.; Lacroix, F.; Garcia-Bellido, A.; Gavrilov, V.; Gay, P.; Geist, W.; Cho, D. K.; Gele, D.; Gerber, C. E.; Gershtein, Y.; Gillberg, D.; Ginther, G.; Lam, D.; Gollub, N.; Andrieu, B.; Gomez, B.; Hensel, C.; Herner, K.; Arthaud, M.; Hesketh, G.; Hildreth, M. D.; Hirosky, R.; Hobbs, J. D.; Lammers, S.; Hoeneisen, B.; Hoeth, H.; Hohlfeld, M.; Choi, S.; Hong, S. J.; Hossain, S.; Houben, P.; Askew, A.; Hu, Y.; Hubacek, Z.; Landsberg, G.; Hynek, V.; Iashvili, I.; Illingworth, R.; Ito, A. S.; Choudhary, B.; Jabeen, S.; Jaffre, M.; Jain, S.; Jakobs, K.; Asman, B.; Lebrun, P.; Jarvis, C.; Jesik, R.; Johns, K.; Johnson, C.; Johnson, M.; Christofek, L.; Jonckheere, A.; Jonsson, P.; Juste, A.; Kafer, D.; Greenwood, Z. D.; Kajfasz, E.; Jesus, A. C. S. Assis; Kalinin, A. M.; Kalk, J. R.; Kalk, J. M.; Kappler, S.; Christoudias, T.; Karmanov, D.; Lee, W. M.; Ay, C.; Coadou, Y.; Leflat, A.; Lehner, F.; Lellouch, J.; Leveque, J.; Lewis, P.; Li, J.; Li, Q. Z.; Gregores, E. M.; Li, L.; Lietti, S. M.; Lima, J. G. R.; Cooke, M.; Badaud, F.; Lincoln, D.; Linnemann, J.; Lipaev, V. V.; Lipton, R.; Liu, Y.; Grenier, G.; Liu, Z.; Lobo, L.; Lobodenko, A.; Lokajicek, M.; Cooper, W. E.; Love, P.; Baden, A.; Lubatti, H. J.; Lyon, A. L.; Maciel, A. K. A.; Gris, Ph.; Mackin, D.; Madaras, R. J.; Mattig, P.; Magass, C.; Magerkurth, A.; Corcoran, M.; Mal, P. K.; Malbouisson, H. B.; Bagby, L.; Malik, S.; Grivaz, J. -F.; Malyshev, V. L.
Contribuinte(s)	Universidade Estadual Paulista (UNESP)
Data(s)	30/09/2013 20/05/2014 30/09/2013 20/05/2014 04/04/2008
Resumo	We present a study of mu mu mu mu, eeee, and mu mu ee events using 1 fb(-1) of data collected with the D0 detector at the Fermilab Tevatron p (p) over bar Collider at root s = 1.96 TeV. Requiring the lepton pair masses to be greater than 30 GeV, we observe one event, consistent with the expected background of 0.13 +/- 0.03 events and with the predicted standard model ZZ and Z gamma() production of 1.71 +/- 0.15 events. We set an upper limit on the ZZ and Z gamma() cross section of 4.4 pb at the 95% C.L. We also derive limits on anomalous neutral trilinear ZZZ and ZZ gamma(*) gauge couplings. The one-parameter 95% C.L. coupling limits with a form-factor scale Lambda = 1.2 TeV are -0.28 < f(40)(Z)< 0.28, -0.31 < f(50)(Z)< 0.29, -0.26 < f(40)(gamma)< 0.26, and -0.30 < f(50)(gamma)< 0.28.
Formato	7
Identificador	http://dx.doi.org/10.1103/PhysRevLett.100.131801 Physical Review Letters. College Pk: Amer Physical Soc, v. 100, n. 13, p. 7, 2008. 0031-9007 http://hdl.handle.net/11449/24441 10.1103/PhysRevLett.100.131801 WOS:000254670300015 WOS000254670300015.pdf
Idioma(s)	eng
Publicador	Amer Physical Soc
Relação	Physical Review Letters
Direitos	closedAccess
Tipo	info:eu-repo/semantics/article

Acesso ao item digital