Um Estudo de técnicas de aceleração para algoritmos de análise de timing funcional baseados em geração automática de teste


Autoria(s): Pinto, Ana Cristina Medina
Contribuinte(s)

Reis, Ricardo Augusto da Luz

Data(s)

06/06/2007

2002

Resumo

Este trabalho tem como objetivo estudar e avaliar técnicas para a aceleração de algoritmos de análise de timing funcional (FTA - Functional Timing Analysis) baseados em geração automática de testes (ATPG – Automatic Test Generation). Para tanto, são abordados três algoritmos conhecidos : algoritmo-D, o PODEM e o FAN. Após a análise dos algoritmos e o estudo de algumas técnicas de aceleração, é proposto o algoritmo DETA (Delay Enumeration-Based Timing Analysis) que determina o atraso crítico de circuitos que contêm portas complexas. O DETA está definido como um algoritmo baseado em ATPG com sensibilização concorrente de caminhos. Na implementação do algoritmo, foi possível validar o modelo de computação de atrasos para circuitos que contêm portas complexas utilizando a abordagem de macro-expansão implícita. Além disso, alguns resultados parciais demonstram que, para alguns circuitos, o DETA apresenta uma pequena dependência do número de entradas quando comparado com a dependência no procedimento de simulação. Desta forma, é possível evitar uma pesquisa extensa antes de se encontrar o teste e assim, obter sucesso na aplicação de métodos para aceleração do algoritmo.

Formato

application/pdf

Identificador

http://hdl.handle.net/10183/6068

000480254

Idioma(s)

por

Direitos

Open Access

Palavras-Chave #Microeletronica #Cad : Microeletronica #Geracao automatica : Testes #Testes : Circuitos integrados
Tipo

Dissertação